Мастер-класс «Современный уровень рентгеноструктурных исследований. Возможности и перспективы»
Докладчик: Илья А. Гузей (University of Wisconsin–Madison (QS=56), USA)
Мастер-класс рассчитан на студентов и ученых, обладающих базовыми кристаллографическими знаниями и желающих приобрести практические навыки по обработки кристаллических структур на основе данных монокристаллической рентгеновской дифракции. Как начинающие, так и опытные пользователи получат пользу от курса и повысят свои знания математических основ принципов дифракции, компьютерного программного обеспечения и определения кристаллической структуры. Курс будет охватывать концепции кристаллографического анализа, включая точечную / пространственную групповую симметрию, использование обратной решетки для понимания дифракции кристаллами и кристаллографического дизайна эксперимента.
Расписание
Мастер-класс будет состоять из двух 2-х часовых сессий, проводимых в течение двух дней:
Март 16, 2020
- 11:00-13:00: Уровень - новичок. Установка программ, знакомство с программами, анализ данных с целью выбора правильной пространственной группы, уточнение простых структур.
Март 17, 2020
- 11:00-13:00: Уровень - эксперт. Расшифровка и уточнение сложных структур и работа с данными собранными на кристаллах-двойниках.
Предварительные условия: Каждый должен установить пакеты программного обеспечения OLEX2 и SHELXL, а также программу XPREP на своих персональных или лабораторных компьютерах. Каждый студент должен работать индивидуально.
Инструкции по установке приведены на страницах 3-6 примечаний к OLEX2.
Участники: студенты, аспиранты и научно-педагогические работники факультета физико-математических и естественных наук РУДН и других вузов